功能用途：
PS/MS专用显微投影薄片观测仪是将磨制抛光后的地质薄片放置到样品板上进行检测、观测、分析，确认是否达到符合研究标准的一种仪器。它可以一次对抛光后的1至15个薄片样片进行逐步检测，也可以选择性地进行偏光下观测、拍照，并能多人同时进行观测、讨论，保证磨制抛光后的地质薄片达到最理想状态，同时也可以应用于教学、交流、讲座。
该仪器操作非常方便，易于掌握，利用数字化的选择，每个投影图像都可以被记录、储存、并可以通过互联网向有关人员分发，方便交流研讨。
性能特点
1、与传统显微镜相比，一次可以进行多片地质薄片的检测、观察、分析、交流工作，确定其磨制抛光样片是否满足研究者的要求
2、成像迅速、真实、直观、易用
3、对于地质薄片制样者与地质研究院所、地质学家来说，是传统偏光显微镜最佳的优质替代品
4、投影图像方便于多人观察，即使长时间观察也不会引起眼部疲劳
5、大区域显示样本，方便比较矿物质的结构、浓度及含量。进行构造地质学分析、粗粒岩和沉积学测试观察。
6、采用高性能照明系统使得投影画面更加清晰
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