功能用途：

PS/MS专用显微投影薄片观测仪是将磨制抛光后的地质薄片放置到样品板上进行检测、观测、分析，确认是否达到符合研究标准的一种仪器。它可以一次对抛光后的1至15个薄片样片进行逐步检测，也可以选择性地进行偏光下观测、拍照，并能多人同时进行观测、讨论，保证磨制抛光后的地质薄片达到理想状态，同时也可以应用于教学、交流、讲座。

该仪器操作非常方便，易于掌握，利用数字化的选择，每个投影图像都可以被记录、储存、并可以通过互联网向有关人员分发，方便交流研讨。